可精確測量目前分光光度計無法測量的微小、超薄、弧面樣品的光譜反射率，不會與樣品背面的反射光產生干涉；是測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統；實現非破壞性測量最佳方案。符合BS EN ISO 12132; GB 10810.4; QBT 2506 標準。

 

產品內容

 

1消除背面反射光

 

采用特殊光學系統，消除背面反射光。 不必進行背面的防反射處理，可正確測定弧度鏡片表面的反射率。

 

2可測定微小區域的反射率（消除曲面反射測試帶來的誤差）?

 

用物鏡對焦于樣本表面的微小光斑（ø60 μm），可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。

 

3測定時間短?

 

由于使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測光機構，可以進行快速、高重復性的測定。

 

4支持XY色度圖、L*a*b*測定?

 

可以依據分光測色法，通過分光反射率測定物體顏色；比較色差。更真實反映材料主觀感受色彩。

 

5綜合對比反射均勻度測量

 

提供6組數據對比，可在測試區域內任意取點測量，分析鏡片各部分反射均勻性。

 

使用方法  

 

1、把探頭與電控箱連接，同時接上電源，開機預熱10-15分鐘。此時應把探頭放在黑色標準板上為佳。

 

2、校零：把探頭放在白色標準板上，調整主機上的校零旋鈕，使主機數字顯示為000.0，允許變動±0.1.

 

3、校正標準值：把探頭放在白色標準板上，調整主機的校標旋鈕，使主機顯示的數值與白色標準板的標定一致。允許變動±0.1反復調整一次（校零、校標）。

 

4、測量RB值：把探頭移至放有試樣的黑色工作陶瓷板上，顯示器所顯示的數值即為RB值。

 

5、測量RW值：把探頭移至放有試樣的白色工作陶瓷板上，顯示器所顯示的數值即為RW值。

 

6、計算求得對比率對比率（這概率）=RB/RW×100%。